高低温冲击试验箱用于为电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装置对电子元器件进行试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。使用时温度冲击箱通过传动装置带动样品在高低温两箱中进行快速转换,实现对样品的温度冲击,从而测试材料结构或复合材料在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
主要参数:
1.温度范围:高温箱: 60℃~200℃;
2.低温箱:0℃~-70℃;
3.温度波动度:±0.5℃;
4.温度均匀:±2℃;
5.升温速率:≤5℃/min; (全程平均)
6.降温速率:≤5℃/min;; (全程平均)
7.预冷下限温度:≤-70℃;
8.冲击温度: 150~-60℃;
9.工作室尺寸:400×400×500mm; (深×宽×高)
10.样品架尺寸:150×150mm;
11.温度恢复时间:5min;
12.样品架转换时间:≤10s;
13.冲击方式:上下移动提篮式或翻板式
14.电源:380v±10﹪ 50hz
技术特点:
(1)通过设置的滑动机构来带动滑动板滑动,能够在工作的时候通过滑动板来阻隔加热装置或制冷装置与箱体内部的连通,通过滑动板的滑动来实现冷热的交换,进而对芯片进行检测,不需要对芯片进行移动,或者间接的移动,提高了芯片的稳定性;
(2)设置的吸盘能够在滑动板的上下移动过程中对滑动板起到缓冲的作用,同时还可以对滑动板进行吸附,提高滑动板的稳定性。
环仪仪器是专业从事试验设备的开发、生产、销售与服务为一体的高新企业,产品广泛应用于科研、军事、航空、船舶、邮电通信、汽车、摩托车、电工、化工、医疗、电子、半导体、光电、机械等企业事业单位和学校实验室。
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