冷热冲击试验箱(两箱动态式)适用于各类电工电子产品及其他产品、零部件和材料进行高低温恒定和各种温度冲击及温度变化的可靠性试验。它具有两个独立的测试室,分别用于高温和低温测试,并且能够实现动态冲击试验。
技术参数:
冲击温度范围:a-40℃~85℃ b:-55℃~85℃ c:-65℃~85℃
温度偏差:±3℃ (空载时)
温度波动度:≤1℃ (空载时)
升温速率:从常温~150℃≤25min(全程平均)(升温时间为高温箱单独运转时的性能)
降温速率:从常温~-55℃≤45min(全程平均)(降温时间为低温箱单独运转时的性能)
时间设定范围:1~60000m
温度恢复时间:≤5min
提篮转化时间:≤15s
观察窗:210×275mm或395×395mm(有效视界)
外箱材质:优质a3钢板静电喷塑
内箱材质:进口高级不锈钢sus304
保温材质:硬质聚氨酯泡沫 玻璃纤维
温度控制器:原装进口温度仪表
温度传感器:pt100铂金电阻测温体
制冷方式:双机复叠式制冷
压 缩 机:法国泰康/德国比泽尔
产品特点:
1.试验区(测试篮)通过传动装置在高温预热区与低温预冷区垂直上下移动,达到瞬间高温、低温冲击效果。
2.先进科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角。
3.完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性。
相关标准:
1.制造标准gb/t10586-2006及gb/t10592-1989
2.检定标准gb/t5170.2-1996,gb/t5170.5-1996.
3.满足试验标准:
gb2423.1-2008(iec68-2-1)试验a:低温试验方法
gb2423.2-2008(iec68-2-2)试验b:高温试验方法
gb/t2423.22-2008 试验n: 温度变化试验方法
gjb150.3a-2009(mil-std-810d)高温试验方法
gjb150.4a-2009(mil-std-810d)低温试验方法
gjb/150.5-2009温度冲击试验